이차이온 질량분석기 및 주성분 분석을 이용한 흔적증거물 감식방법

본 발명은 이차이온 질량분석기를 이용하여 흔적증거물에 묻어 있는 잔류물에 대한 감식방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 흔적증거물에 묻은 잔류물을 감식하기 위한 흔적증거물 감식방법은, 이차이온 질량분석기를 이용하여 대상시료에 대하여 2차원 이온이미지를 생성하는 단계, 상기 2차원 이온이미지로부터 잔류물이 묻은 관심영역을 선택하여 상기 관심영역에 대한 질량스펙트럼을 구성하는 단계, 상기 질량스펙트럼에서 피크들의 질량값과 이차이온세기를 수집하는 단계, 상기 수집된 질량값과 이차이온세기를 주성분 분석하는 단계, 및 상기 주성분 분석 결과에 기반하여, 미리 구성된 데이터베이스에서 미리 설정된 동등성 조건을 만족하는 시료를 검색하는 단계를 포함한다.

본 발명은 이차이온 질량분석기(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS) 및 주성분 분석 Principal Component Analysis, PCA) 기술을 이용한 흔적증거물의 감식방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 흔적 증거물에 포함된 화장품 성분들의 질량 분석을 통해 화장품 잔류물의 동일성 여부에 대한 감식방법에 관한 것이다.