메타물질을 이용한 광 이미징 장치 및 방법
미세구조의 광특성을 관찰
특허 도면
특허 등록번호: 10-2161703
특허 문서
기술 개요
본 발명의 일 실시예는, 메타물질로 구성되는 단위 셀을 복수개 포함하고 관찰대상과 인접하게 위치하는 메타물질 어레이 센서, 상기 메타물질 어레이 센서를 향하여 이미징 빔을 제공하는 이미징 빔 제공부, 상기 단위 셀에 입사되는 상기 이미징 빔이 차단되도록 상기 단위 셀에 제공되는 컨트롤 빔을 제어하는 컨트롤 빔 제공부, 그리고, 상기 단위 셀에 상기 이미징 빔이 투과되는 경우의 상기 메타물질 어레이 센서의 이미징 빔 투과량과 상기 단위 셀에 상기 컨트롤 빔이 집속되어 상기 단위 셀에 입사되는 상기 이미징 빔이 차단된 경우의 상기 메타물질 어레이 센서의 이미지 빔 투과량을 측정하여 상기 단위 셀을 투과하는 단위 셀 이미지 빔 투과량을 측정하는 이미징 빔 측정부를 포함하는 타물질을 이용한 광 이미징 장치를 제공한다.
주요 특징
전기전자
협력 희망 분야
매매